Principe de fonctionnement

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Principe de fonctionnement d’un spectromètre ED-XRF

Les spectromètres XRF de table de SPECTRO sont basés sur la méthode d’analyse en dispersion d’énergie (ED-XRF). Les atomes dans le matériau de l’échantillon, de forma solide, liquide ou pulvérulente, sont excités par des rayons-X émis par un tube ou un radio istotope. Pour améliorer la sensiblité , la radiation de l’excitation primaire peut être polarisée en utlisant des cibles spécifiques entre le tube à rayons-X et l’échantillon (ED-P(olarisation)-XRF). Tous les signaux de fluorescence X caractéristiques émis par les atomes après leur ionisation photoélectrique sont mesurés simultanément par un détecteur semi-conducteur fixe ou un compteur scellé à gaz proportionnel.

L’intensité des radiations du signal de chaque élément, qui est proportionnelle à la concentration de l’élément dans l’échantillon, est recalculée à partir de courbes de calibration enregistrées et peut être directement affichée en unité de concentration.

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