SPECTRO XEPOS

spectro xepos_xep05

Un analizzatore elementare progettato per applicazioni complesse – lo spettrometro ED-XRF (raggi X a dispersione di energia) SPECTRO XEPOS ridefinisce l’analisi ED-XRF con nuovi eccezionali livelli di prestazione.

Il nuovo spettrometro SPECTRO XEPOS rappresenta un salto di qualità nella tecnica XRF a dispersione di energia. Fornisce progressi rivoluzionari nell’analisi multi-elementale degli elementi principali, minori ed in traccia. I nuovi sviluppi nell’eccitazione e nella rilevazione offrono elevata sensibilità e limiti di rilevabilità inferiori, che producono notevoli miglioramenti nella precisione e nell’accuratezza.

L’incredibile SPECTRO XEPOS eccelle in attività critiche, da una rapida analisi di screening ad un controllo preciso della qualità del prodotto. Trova applicazione in svariati settori industriali, nella geologia e mineralogia, nel monitoraggio ambientale e dei rifiuti, nel mondo della ricerca e in quello accademico. Sviluppato in diverse versioni per ottimizzare e massimizzare le prestazioni degli elementi selezionati in matrici specifiche. Un tubo a raggi X innovativo ed una nuova ed unica tecnologia di eccitazione in grado di fornire la massima sensibilità possibile.


Scarica la brochure di SPECTRO XEPOS

Guarda il video del metodo Turboquant per SPECTRO XEPOS

Per ulteriori informazioni in lingua inglese, visita il sito spectro.com.

Comments are closed.